杭州加速科技推出LPDDR4/LPDDR4X协同测试解决方案：重构高性价比内存测试路径-加速科技 · 官方资料

资料介绍

SLT测试效率低：系统级验证需要在真实设备或模拟环境中运行，环境复杂、故障定位困难、测试效率低、兼容性覆盖不足。如何在保证质量的前提下，为LPDDR4/LPDDR4X这类成熟但用量巨大的存储芯片提供更经济高效的测试路径，已成为产业链的共同诉求。；该方案在FT阶段采用加速科技自研的ST2500E/ST2500EX测试机，专注于芯片封装后的核心基础验证，对LPDDR4/LPDDR4X芯片进行精准的“瘦身”测试：；► 并测能力：支持256颗芯片同步测试，彻底释放产能

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