杭州加速科技推出LPDDR4/LPDDR4X协同测试解决方案：重构高性价比内存测试路径-加速科技

方案介绍

官方应用参考

杭州加速科技有限公司官网公开的“杭州加速科技推出LPDDR4/LPDDR4X协同测试解决方案：重构高性价比内存测试路径-加速科技”应用参考，涉及SLT测试效率低：系统级验证需要在真实设备或模拟环境中运行，环境复杂、故障定位困难、测试效率低、兼容性覆盖不足。如何在保证质量的前提下，为LPDDR4/LPDDR4X这类成熟但用量巨大的存储芯片提供更经济高效的测试路径，已成为产业链的共同诉求。

原文技术事实节录

• SLT测试效率低：系统级验证需要在真实设备或模拟环境中运行，环境复杂、故障定位困难、测试效率低、兼容性覆盖不足。如何在保证质量的前提下，为LPDDR4/LPDDR4X这类成熟但用量巨大的存储芯片提供更经济高效的测试路径，已成为产业链的共同诉求。
• 该方案在FT阶段采用加速科技自研的ST2500E/ST2500EX测试机，专注于芯片封装后的核心基础验证，对LPDDR4/LPDDR4X芯片进行精准的“瘦身”测试：
• ► 并测能力：支持256颗芯片同步测试，彻底释放产能

本站应用检查建议

先查看官方方案的器件与接口条件，再核对对应资料和版本；以目标设备进行原型验证，记录测试条件与验收结果。

供应企业与官方资料

本方案归属供应企业，具体器件、软件版本和实施条件请查看官方原文。

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